English
Advanced memories to overcome the flash memory weakness: a radiation viewpoint reliability study
Nicola Wrachien - Department of Industrial Engineering, University of Padova
La maggior parte delle memorie non volatili attuali si basa sul transistor a gate flottante. Nel corso degli anni, la dimensione della cella elementare è stata sempre più ridotta per far fronte alle crescenti richieste in termini di densità di memoria. Tuttavia, il transistor a floating gate sta raggiungendo i suoi limiti fisici intrinseci e le dimensioni della cella non possono più essere facilmente ridotte a meno di non compromettere la funzionalità o l’affidabilità del dispositivo stesso. Per far fronte a questi problemi, diverse alternative sono in fase di studio. Tra di esse, si possono annoverare le memorie ferroelettriche, le memorie a cambiamento di fase, e le memorie a nanocristalli. Questi tre tipi di memorie sono oggetto di studio di questa tesi.
In lingua inglese
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Fonte: Tesi di Dottorato di Ricerca in Ingegneria dell'Informazione, Padova 2010
Settori: Elettronica, Elettrotecnica
Parole chiave: Transistor
